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INFRAESTRUCTURA


Microscopios Electrónicos de Transmisión

(1) JEOL JEM-2010 (TEM) con filamento de LaB6 y adquisición de imágenes digitales. Consultar con el Tec. Francisco Ruíz para mayor información y acceso al instrumento.

(2) JEOL JEM-2100F (STEM) con cañón de electrones tipo emisión de campo-Schottky, modo barrido, adquisición digital de imágenes, análisis químico por medio de espectroscopia de dispersión de energía (EDS), mapas y espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS). Consultar con Tec. Francisco Ruíz para mayor información y acceso al instrumento. 


  

 

Microscopías de Superficie

(3) JEOL JSM-5300 (SEM) con detector para hacer análisis químico por medio de Dispersión de Energía (EDS), adquisición digital de imágenes. Consultar con Tec. Israel Gradilla para mayor información y acceso al instrumento.

(4) JEOL JIB-4500 (SEM+FIB), sistema integral de microscopia electrónica (SEM) y haz de iones enfocados (FIB), con sistemas de depósito de capas metalizas, nanomanipulador, espectroscopía de catodoluminiscencia y de dispersión de energía (EDS). Consultar con Tec. Israel Gradilla para mayor información y acceso al instrumento.

(5) Park System modelo XE-BIO (AFM), con capacidad de análisis de la topografía de muestras biológicas. Consultar con Tec. Eduardo Murillo para mayor información y acceso al instrumento.

(6) Park System modelo XE-70 (AFM), con capacidad de análisis de la topografía para una gran gama de superficies en el campo ciencia de materiales. Adicionalmente, este microscopio cuenta con el accesorio para realizar microscopia de piezo-fuerza (PFM). Consultar con Tec. Eduardo Murillo para mayor información y acceso al instrumento.


Difractómetros de Rayos-X

(7) Philips X’pert MPD (XRD), para mediciones de difracción en polvos y haz rasante de películas delgadas, cuenta con un accesorio para hacer mediciones a temperatura variable, 90-600°K. Consultar con Tec. Eloisa Aparicio para mayor información y acceso al instrumento.

(8) Panalitycal X’pert Pro MRD (XRD), con cuna tipo Euleriana para mediciones de difracción en películas delgadas. Consultar con Tec. Eloisa Aparicio para mayor información y acceso al instrumento.