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UNIDAD DE NANOCARACTERIZACION

La Unidad de NanoCaracterización está constituida por varios equipos científicos especializados para la caracterización de materiales, que van desde difractómetros de rayos-x hasta microscopios de ultra-alta resolución atómica.

Microscopios Electrónicos de Transmisión:

(1) JEOL JEM-2010 (TEM) con filamento de LaB6 y adquisición de imágenes digitales. Consultar con el Tec. Francisco Ruíz para mayor información y acceso al instrumento.

(2) JEOL JEM-2100F (STEM) con cañón de electrones tipo emisión de campo-Schottky, modo barrido, adquisición digital de imágenes, análisis químico por medio de espectroscopia de dispersión de energía (EDS), mapas y espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS). Consultar con Tec. Francisco Ruíz para mayor información y acceso al instrumento. 

 Microscopías de superficie:

 (1) JEOL JSM-5300 (SEM) con detector para hacer análisis químico por medio de Dispersión de Energía (EDS), adquisición digital de imágenes. Consultar con Tec. Israel Gradilla para mayor información y acceso al instrumento.

(2) JEOL JIB-4500 (SEM+FIB), sistema integral de microscopia electrónica (SEM) y haz de iones enfocados (FIB), con sistemas de depósito de capas metalizas, nanomanipulador, espectroscopía de catodoluminiscencia y de dispersión de energía (EDS). Consultar con Tec. Israel Gradilla para mayor información y acceso al instrumento.

(3) Microscopio de Fuerza Atómica (AFM), Park Systems modelo XE-BIO-AFM con capacidad de análisis de la topografía de muestras biológicas. Consultar con Tec. Eduardo Murillo para mayor información y acceso al instrumento.

(4) Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) Park System modelo XE-70. Con capacidad de análisis de la topografía para una gran gama de superficies en el campo ciencia de materiales. Adicionalmente, este microscopio cuenta con el accesorio para realizar microscopia de piezo-fuerza (PFM). Consultar con Tec. Eduardo Murillo para mayor información y acceso al instrumento.

 Difractometros de rayos-x:

 (1) Philips X’pert MPD, para mediciones de difracción en polvos y haz rasante de películas delgadas, cuenta con un accesorio para hacer mediciones a temperatura variable, 90-600°K. Consultar con Tec. Eloisa Aparicio para mayor información y acceso al instrumento.

(2) Panalitycal X’pert Pro MRD, con cuna tipo Euleriana para mediciones de difracción en películas delgadas. Consultar con Tec. Eloisa Aparicio para mayor información y acceso al instrumento.

 

SERVICIO DE CARACTERIZACION

Solicitud de servicio interno

Cada equipo científico cuenta con un técnico académico (T.A.) responsable de su operación y en primera instancia es a través del T.A. que el servicio de medición o caracterización se realizará.  Los  usuarios pueden solicitar el servicio de caracterización, mediante los formatos de solicitud de servicio interno asociados a cada equipo. Los formatos los pueden conseguir con el T.A. responsable de cada equipo.

 Capacitación para operación de los equipos

Los usuarios que así lo requieran podrán recibir capacitación para operación de algunos equipos, siempre y cuando satisfagan y cumplan los requisitos y condiciones, así como estar sujetos a las observaciones y condiciones que se listan a continuación.

      Requisitos:

(1) Solicitud por escrito del usuario académico, del director de tesis del estudiante interesado o asesor del posdoctorado, argumentando la necesidad de capacitación, el tema de investigación, el tipo de materiales a caracterizar y el(los) equipo(s) científico(s) de interés. Dirigir la solicitud al Jefe de Nanoestructuras.

(2) El usuario estudiante/posdoctorado deberá haber cursado alguna asignatura asociada a los equipos y mostrar la suficiencia de conocimientos teóricos básicos.

(3) En la misma carta de solicitud el usuario académico, director de tesis o asesor del posdoctorado debe manifestar su compromiso para mantener la funcionalidad integral de cada equipo solicitado y estar de acuerdo en la contribución económica para cubrir los contratos de mantenimiento anual así como los consumibles asociados al(os) equipo(s).   Indicar el fondo económico (PAPIIT, presupuesto UNAM u otros) del cual se deducirá dicha contribución. Los montos por sesión asociados a cada pueden ser consultados con el jefe de la Unidad de Nanocaracterización.

   (4) Demostrar conocimiento de los lineamientos de higiene y seguridad de cada laboratorio asociado a los equipos científicos.

Condiciones

 (1) Cada sesión de capacitación, se solicitará usando el método tradicional de solicitud de servicio de caracterización.

 (2) La capacitación se realizará durante la sesión de análisis de sus propias muestras.

 (3) El técnico académico responsable de cada equipo científico indicará el momento en que un usuario está calificado con el conocimiento técnico suficiente para usar el equipo en cuestión.

(4) El nivel de capacitación se incrementará en base al grado de aptitud y desempeño de cada usuario.

Observaciones y advertencias

 (1) El técnico académico responsable de cada equipo científico es el único usuario autorizado para capacitar nuevos usuarios.

(2) Los usuarios calificados para usar cada equipo científico seguirán sujetos  a proporcionar al técnico responsable la tradicional solicitud de servicio autorizada.

(3) Bajo ninguna circunstancia un equipo científico podrá ser modificado/alterado físicamente sin previa autorización del técnico académico responsable y Jefe de Nanoestructuras.

(4) Al usuario capacitado que se identifique incurriendo en malas prácticas será revocada su calidad de “usuario capacitado”. Se limitará su acceso a los equipos siguiendo el método tradicional de solicitud interna de servicio de caracterización. 


SOLICITUDES DE SERVICIOS PARA LOS ACADÉMICOS DEL CNyN

Observaciones generales:

I.-  LA SOLICITUD DE SERVICIO DEBE SER ENTREGADA POR EL USUARIO PERSONALMENTE AL TÉCNICO RESPONSABLE DEL EQUIPO. SÓLO SE RECIBIRÁ UNA SOLICITUD POR USUARIO. UNA SEGUNDA SOLICITUD DEL MISMO USUARIO SERÁ RECIBIDA CUANDO SE FINALICEN LOS ANÁLISIS DE LA PRIMERA SOLICITUD.

II.- LA INTERPRETACIÓN DE LOS RESULTADOS DE LA MEDICIÓN ES RESPONSABILIDAD DEL USUARIO SOLICITANTE DEL SERVICIO.

III. LA PREPARACIÓN DE LA MUESTRA ES RESPONSABILIDAD DEL USUARIO. CONSULTAR CON EL TÉCNICO RESPONSABLE SOBRE LOS CONSUMIBLES NECESARIOS PARA LA PREPARACIÓN. PARA LAS MEDICIONES DE TEM ES NECESARIO DE QUE EL USUARIO PROPORCIONE EL NITRÓGENO LÍQUIDO CORRESPONDIENTE (CONSULTAR CON EL TÉCNICO ENCARGADO).

IV. LOS ARCHIVOS ELECTRÓNICOS GENERADOS DE LOS ANÁLISIS, SE MANTENDRÁN POR EL PERIODO DE UN MES.  POSTERIORMENTE SERÁN BORRADOS. ES RECOMENDABLE QUE LOS USUARIOS SE LLEVEN SUS ARCHIVOS ELECTRÓNICOS AL FINALIZAR EL ANÁLISIS DE SUS MUESTRAS.

V. ES RESPONSABILIDAD DE LOS USUARIOS INFORMAR AL TÉCNICO SOBRE LAS MEDIDAS DE SEGURIDAD Y MANEJO QUE DEBE TENER CON RELACIÓN A SUS MUESTRAS.

VI. LOS USUARIOS NO PUEDEN HACER MODIFICACIONES A LOS FORMATOS DE SOLICITUDES DE SERVICIOS (VER LISTADO DE ABAJO).


Formatos de solicitudes de servicios:

 

EQUIPO CIENTÍFICO

LIGA PARA EL FORMATO

FECHA DE ACTUALIZACIÓN

TEM, JEOL JEM-2010

Click aquí

17 de junio de 2014

STEM, JEOL JEM-2100F

Click aquí

17 de junio de 2014

SEM, JEOL JSM-5300

Click aquí

17 de junio de 2014

SEM, JEOL JIB-4500 (SEM+FIB)

Click aquí

17 de junio de 2014

AFM, Park Systems,  XE-BIO

Click aquí

17 de junio de 2014

AFM, Park System,  XE-70

Click aquí

17 de junio de 2014

XRD, Philips X’pert MPD

Click aquí

17 de junio de 2014

XRD, Panalitycal X’pert Pro MRD

Click aquí

17 de junio de 2014

XPS,  Leybold (pendiente)

pendiente

 


Saldo del usuario en la Unidad al 04 de julio de 2014 (click aquí)

Algo de estadística del 04 de enero al 04 de julio de 2014 (click aquí)


PERSONAL ASOCIADO

 La Unidad de Nanocaracterización cuenta con el siguiente personal académico y administrativo para su operación:

          Técnico Académico M.C. Eloísa Aparicio Ceja ( This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it )

          Técnico Académico Ing. Israel Gradilla ( This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it )

          Técnico Académico Sr. Francisco Ruiz Medina ( This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it

          Técnico Académico M.C. Eduardo Murillo ( This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it )

          Técnico Laboratorista  Jaime Mendoza

          

Jefe deUnidad de Nanocaracterización Dr. Wencel De La Cruz ( This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it

 

Pueden dirigir sus comentarios, sugerencias y dudas a la dirección This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it y This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it