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Mufei Xiao Wu

Investigador Titular C; PRIDE D;
Departamento Materiales Avanzados
Extensión 373
Resumen curricular:

Mufei nació en China en 1957. Estudió la carrera de Fí­sica en la Universidad de Fudan, Shanghai, China, recibiéndose en 1982. Posteriormente trabajó de 1982 a 1990 a Nanchang Instituto de Tecnologí­a Aeronáutica, China. De 1986 a 1987 estudió la especialidad en Nondestructive Testing en el Centro de Formación Aeronáutica y Espacial, Toulouse, Francia. De 1990 a 1994 estudió el Doctorado en Fí­sica óptica en la Universidad de Aalborg, en Dinamarca.

A partir de 1995 se incorporó al recién creado laboratorio de Ensenada del Instituto de Fí­sica de la UNAM, donde trabaja actualmente.

Mufei fue uno de los pioneros en la microscopía óptica de barrera de campo cercano. Ha publicado más de 100 artí­culos cientí­ficos. Recientemente, Mufei trabaja en nano-optica y left-hand metamaterial. Su trabajo incluye teorí­a, experimento, computación. Su grupo incluye varias estudiantes y postdocs.

Publicaciones relevantes:
  • J. Wei and M. Xiao, "Negative refraction via domain wall resonances in a homogeneous mixture of ferro- and nonmagnetic substances", Journal of Physics: Condensed Matters, 19 (2007) 072203.
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  • M. Xiao, "Rigorous solution of transient propagation of electromagnetic waves through a medium: causality plus diffraction in time", Optics Letters, 25 (2000) 995-997.
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  • M. Xiao, "Physical picture for light emission in scanning tunneling microscopy", Physical Review Letters , 82 (9) (1999) 1875-1878.
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  • M. Xiao, "Theoretical treatment for scattering scanning near-field optical microscopy", Journal of the Optical Society of America A, 14 (11) (1997) 2977-2984.
  •  

  • M. Xiao, "A study of resolution limit in optical microscopy: near and far field", Optics Communications, 132 (1996) 403-409.