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Eduardo Antonio Murillo Bracamontes

Titular "A", SNI 1; PRIDE B;
Departamento Nanoestructuras
Extensión 730
Resumen curricular:

Doctor en Ciencias por la Universidad Autónoma de Baja California (UABC) en 2014, con especialidad en instrumentación optoelectrónica. Realizó sus estudios de Maestría en Ingeniería Electrónica de 2006 a 2008, con especialidad en instrumentación optoelectrónica donde obtuvo el premio al Mérito Escolar en posgrado por la UABC. Realizó sus estudios en Ingeniería electrónica con especialidad en instrumentación y control de 1999 a 2003 obteniendo el premio al Mérito Escolar en licenciatura por la UABC.

De 2003 a 2009 laboró en el Departamento de Investigación y Desarrollo de la empresa Navico como ingeniero de diseño electrónico de sistemas de sonar, colaborando en la realización de diversos productos comerciales para pesca deportiva y marina.

De 2009 a 2014 laboró en el Centro de Ingeniería y Tecnología (CITEC) de la UABC, Unidad Valle de las Palmas como Profesor Investigador y Coordinador del Programa Educativo de Ingeniería en Electrónica.

Ha impartido 42 cursos de Licenciatura, en los Programas Educativos de Ingeniería Electrónica, Ingeniería Mecatrónica, Ingeniería Industrial de la UABC, así como en la Licenciatura en Nanotecnología de la UNAM.

Cuenta con un Diplomado en Docencia Universitaria (UNAM), un Diplomado en Gestión de la Propiedad Intelectual y la Transferencia de Tecnología (CICESE-IMPI), un Diplomado en Competencias Básicas para la Docencia Universitaria (UABC) y un Diplomado en Estrategias para la Enseñanza Efectiva de las Matemáticas (Tecnológico de Monterrey).

Cuenta con 9 publicaciones en revistas arbitradas, 42 trabajos en congresos, 3 capítulos de libro y una patente.

Se incorpora al CNyN-UNAM en 2014 como integrante del Departamento de Nanoestructuras. Labora en la Unidad de Nanocaracterización, es responsable de los sistemas de microscopía de fuerza atómica AFM XE-70, AFM XE-BIO, así como del sistema de microscopía por efecto tunel STM-300.

Publicaciones relevantes:

Karime Carrera-Gutierrez, Eduardo Murillo, Ignacio Rivero Manuel Herrera-Zaldívar. Poole-Frenkel Conduction Mechanism in ZnO:N Nanobelts. Physica Status Solidi (a), 1800233, 2018. https://doi.org/10.1002/pssa.201800233.


Joel Molina-Reyes, Hugo Tiznado, Gerardo Soto, Monica Vargas-Bautista, David Dominguez, Eduardo Murillo, Dan Sweeney, John Read. Physical and electrical characterization of yttrium-stabilized zirconia (YSZ) thin films deposited by sputtering and atomic-layer deposition. Journal of Materials Science: Materials in Electronics (2018). https://doi.org/10.1007/s10854-018-8909-3.

 

 E. Cruz-Valeriano, D. E. Guzmán-Caballero, T. Escamilla?Díaz, A. Gutierrez-Peralta, Susana Meraz Davila1, J. A. Torres-Ochoa1, J. J. Gervacio Arciniega, E. A. Murillo-Bracamontes, C. I. Enriquez-Flores, R. Ramírez-Bon, Joel Moreno Palmerin, J. M. Yañez-Limón. Dielectric constant measurement using atomic force microscopy of dielectric films: a system theory approach. Applied Physics A, 2018 https://doi.org/10.1007/s00339-018-2093-4.


J.J. Gervacio-Arciniega, E. Murillo-Bracamontes, O. Contreras, J.M. Siqueiros, O. Raymond, A. Durán, D. Bueno-Baques, D. Valdespino, E. Cruz-Valeriano, C.I. Enríquez-Flores, M.P. Cruz. Multiferroic YCrO3 thin films: structural, ferroelectric and magnetic properties. Applied Surface Science. Volume 427, September 2017. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.09.011.


J.R. Martínez-Castelo, J. López, D. Domínguez, E. Murillo, R. Machorro, H.A. Borbón-Nuñez, I. Fernandez-Alvarez, A. Arias, M. Curiel, N. Nedev, M.H. Farías, H. Tiznado. Structural and electrical characterization of multilayer Al2O3/ZnO nanolaminates grown by atomic layer deposition. Materials Science in Semiconductor Processing. Volume 71, August 2017, Pages 290-295. http://dx.doi.org/10.1016/j.mssp.2017.08.007

 

J. López, H.A. Borbón-Nuñez, E.G. Lizarraga-Medina, E. Murillo, R. Machorro, N. Nedev, H. Marquez, M.H. Farías, H. Tiznado, G. Soto. Al2O3-Y2O3 ultrathin multilayer stacks grown by atomic layer deposition as perspective for optical waveguides applications. Optical Materials. Volume 72, July 2017, Pages 788-794. http://dx.doi.org/10.1016/j.optmat.2017.07.011.

 

F.J. Flores-Ruiz, J.J. Gervacio-Arciniega, E. Murillo-Bracamontes, M.P. Cruz, J.M. Yáñez-Limón, J.M. Siqueiros. An alternative scheme to measure single-point hysteresis loops using piezoresponse force microscopy. Measurement. Volume 108, May 2017, Pages 143-151. http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2017.05.046.

 

J. López, J. Martínez, N. Abundiz, D. Domínguez, E. Murillo, F.F. Castillón, R. Machorro, M.H. Farías, H. Tiznado. Thickness effect on the optical and morphological properties in Al2O3/ZnO nanolaminate thin films prepared by atomic layer deposition. Superlattices and Microstructures. Volume 90, February 2016, Pages 265–273. doi:10.1016/j.spmi.2015.12.022

 

“Sistema Inmerso de Bajo Costo para la Localización y Segmentación de Uvas”, Revista DIFU100CI@ de la Universidad Autónoma de Zacatecas. Vol 7, No. 2, septiembre-diciembre de 2013, ISSN: 2007-3585.

 

“Sistema automático para acceso a espacios académicos mediante el uso de teléfono inteligente”, Revista Iberoamericana para la Investigación y el Desarrollo Educativo. Publicación No. 10, enero-junio de 2013 ISSN: 2007-2619.

 

 

“Implementation of Hough transform for fruit image segmentation”, Procedia Engineering, Vol. 35 Elsevier, 2012, ISSN: 1877-7058.

  1. J.J. Gervacio-Arciniega, E. Murillo-Bracamontes, O. Contreras, J.M. Siqueiros, O. Raymond, A. Durán, D. Bueno-Baques, D. Valdespino, E. Cruz-Valeriano, C.I. Enríquez-Flores, M.P. Cruz. Multiferroic YCrO3 thin films: structural, ferroelectric and magnetic properties. Applied Surface Science. Volume 427, September 2017. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.09.011

 

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  1. F.J. Flores-Ruiz, J.J. Gervacio-Arciniega, E. Murillo-Bracamontes, M.P. Cruz, J.M. Yáñez-Limón, J.M. Siqueiros. An alternative scheme to measure single-point hysteresis loops using piezoresponse force microscopy. Measurement. Volume 108, May 2017, Pages 143-151. http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2017.05.046.

 

  1. J. López, J. Martínez, N. Abundiz, D. Domínguez, E. Murillo, F.F. Castillón, R. Machorro, M.H. Farías, H. Tiznado. Thickness effect on the optical and morphological properties in Al2O3/ZnO nanolaminate thin films prepared by atomic layer deposition. Superlattices and Microstructures. Volume 90, February 2016, Pages 265–273. doi:10.1016/j.spmi.2015.12.022

 

  1. “Sistema Inmerso de Bajo Costo para la Localización y Segmentación de Uvas”, Revista DIFU100CI@ de la Universidad Autónoma de Zacatecas. Vol 7, No. 2, septiembre-diciembre de 2013, ISSN: 2007-3585.

 

  1. “Sistema automático para acceso a espacios académicos mediante el uso de teléfono inteligente”, Revista Iberoamericana para la Investigación y el Desarrollo Educativo. Publicación No. 10, enero-junio de 2013 ISSN: 2007-2619.

 

  1. “Implementation of Hough transform for fruit image segmentation”, Procedia Engineering, Vol. 35 Elsevier, 2012, ISSN: 1877-7058.