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Ma. de la Paz Cruz Jáuregui

Investigador Titular; PRIDE C, SNI II;
Departamento Materiales Avanzados.
Extensión 349
Resumen curricular:

La Dra. María de la Paz Cruz Jáuregui nació en Cuautla, Morelos, México, en el año de 1968. Cursó la carrera de Física en la Facultad de Ciencias de la Universidad Nacional Autónoma de México (UNAM), obteniendo el título en el año de 1993. Los grados de Maestría y Doctorado en Ciencias, con especialidad en Física de Materiales, le fueron otorgados por el Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada (CICESE), en 1997 y 2002, respectivamente.

Realizó dos estancias posdoctorales, una en el Centro de Ciencias de la Materia Condensada (CCMC)-UNAM, de enero del 2002 a diciembre del 2003; y la otra en la Universidad de California-Berkeley (UC-Berkeley), de enero del 2005 a diciembre del 2006.

Actualmente es Investigadora Titular en el Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)-UNAM, lugar donde labora desde enero del 2004. Ha sido Representante de Investigadores (2008-2010) y Jefe del Departamento de Materiales Avanzados (2014-2018), y al mismo tiempo Miembro del Consejo Interno. En la actualidad es Jefe de la Unidad de Nanocaracterización (UNaC).

Tiene más de 3800 citas a sus 53 artículos publicados en revistas internacionales indizadas, posee un índice de Hirsh de 19 y es SNI nivel II y PRIDE C.

Sus líneas de investigación se enfocan en el estudio de i) materiales ferroeléctricos, piezoeléctricos y multiferroicos, tanto en forma cerámica como en película delgada; ii) peroskitas híbridas fotovoltaicas con aplicaciones en celdas solares (las que también son electro y fotoluminiscentes); y iii) los andamios e insertos de TiO2 para el crecimiento celular. Las películas delgadas las prepara por medio de técnicas como el depósito por láser pulsado (pulsed laser deposition), erosión iónica (sputtering) y sol-gel combinado con centrifugado (spin-coating). Un aspecto fundamental de su investigación es la caracterización de diversas propiedades a escala micro-nanométrica mediante la microscopía por sonda de barrido (SPM) en sus diferentes modalidades, como la microscopía de fuerza atómica (AFM), de piezo-fuerza (PFM) y de magneto-fuerza (MFM).

En cuando a la formación de recursos humanos y docencia, proporciona cursos y talleres, dirige el trabajo tesis de estudiantes tanto de licenciatura como de posgrado, y asesora servicios sociales y estancias de investigación de diversos niveles (desde preparatoria hasta posdoctorado).

Participa en eventos de divulgación y difusión ya que ha presentado más de 170 trabajos en congresos nacionales e internacionales, y ha impartido varios seminarios y pláticas invitadas.

Por su trayectoria como universitaria sobresaliente en su área de conocimiento y en su ámbito de desempeño profesional, recibió el reconocimiento Sor Juana Inés de la Cruz (UNAM, 2017).

Publicaciones relevantes:
  • T. Zhao , A. Scholl, F. Zavaliche, K. Lee, M. Barry, A. Doran, M. P. Cruz, Y. H. Chu, C. Ederer, N. A. Spaldin, R. R. Das, B. M. Kim, C. B. Eom and R. Ramesh, "Electrical control of antiferromagnetic domains in multiferroic BiFeO3 films at room temperature", Nature Mat., 5 (10), 823-829 (2006).
  • F. Zavaliche, T. Zhao, H. Zheng, F. Straub, M.P. Cruz, P.-L. Yang, D. Hao and R. Ramesh, "Electrically-assisted magnetic recording in multiferroic nanostructures", Nano letters, 7 (6), 1586-1590 (2007).
  • Y. H. Chu, T. Zhao, M. P. Cruz, M. Huijben, P. L. Yang, Q. Zhan, L. W. Martin, C. H. Yang, F. Zavaliche, S. Y. Yang, and R. Ramesh, "Ferroelectric size effects in multiferroic BiFeO3 thin films", Appl. Phys. Lett. 90, #25, 252906-1, 1-3 (2007).
  • Ying-Hao Chu, Maria P. Cruz, C. H. Yang, L. W. Martin, P. L. Yang, K. Lee, P. Yu1, y R. Ramesh, "Domain Control in Multiferroic BiFeO3 Trough Substrates Vicinality", Adv. Mater., 19, 2662 (2007).
  • M. P. Cruz, Y. H. Chu, J. X. Zhang, P. L. Yang, F. Zavaliche, Q. He, P. Shafer, L. Q. Chen and R. Ramesh, "Strain control of domain-wall stability in epitaxial BiFeO3 (110) films", Phys. Rev. Lett., 99, 21 (2007).