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Roberto Machorro Mejía

Investigador Titular B; PRIDE C, SNI 3;
Departamento Materiales Avanzados
Extensión 372 y 378
Resumen curricular:

 


Laboratorio   CV completo   Publicaciones   Proyectos   Cursos    Propuestas de Tesis     Lecturas    Galeria

 


 

Datos particulares

Licenciatura en Física, 27 julio 1974 Univ. Autónoma de Puebla, Puebla, México 

Maestría en Ciencias, especialidad en Optica, noviembre de 1975, INAOE, Tonantzintla, Puebla 

 Doctorado en Ciencias, Especialidad en Optica, 17 octubre 1986, INAOE, Tonantzintla, Puebla 

Experiencia desde 1976 en investigación y desde 1972 en docencia

SNI nivel III, Pride-UNAM nivel C

Premio de la Academia Mexicana de Óptica 2010, Medalla “Daniel Malacara Hernández”

Publicaciones de investigación en revistas internacionales con arbitraje (dentro del SCI): 58, un capítulo en libro. 586 citas, incluyendo 151 autocitas. Factor de Hirsch=14 (a sep 2013)

Publicaciones de docencia en revistas internacionales con arbitraje 2

Memorias en extenso en congresos internacionales: 24

Memorias en extenso en congresos nacionales: 11

Presentaciones en congresos nacionales 88

Presentaciones en congresos internacionales 58

Participación en proyectos de investigación 14, 8 como responsable

Dirección de tesis: 9 (3 Lic, 4 MC, 3 Dr), 1 codirección en tesis de doctorado

Los graduados de doctor son ahora destacados investigadores, todos en el SNI, con una carrera académica sorprendente. Cada uno con su línea independiente. FVV tiene una trayectoria en cristales fotónicos en el CIO. EPT ha creado un gran laboratorio de materiales en la UANL. Dos graduados de MC trabajan en forma exitosa en la industria.

Aparatos para la enseñanza de la física, nivel licenciatura: 17, a nivel secundaria y preparatoria : 7

Diseño o integración de sistemas para la investigación: 22

Diseño de sistemas para la industria: 4



Publicaciones relevantes:

 

Seis últimas publicaciones (El estudiante participante está con un asterisco)

53.- Optical response of Cu clusters in zeolite template 

Journal of Colloid and Interface Science 375 (2012) 60–64 Catalina López-Bastidas, Vitalii Petranovskii, Roberto Machorro 

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0021979712001932


54.- TiO2 and Al2O3 ultra thin nanolaminates growth by ALD; instrument automation and films characterization 

Revista Mexicana de Física 58 (2012) 459–465 Hugo Tiznado, David Domínguez, Wencel de la Cruz, Roberto Machorro, Mario Curiel and Gerardo Soto, 


55.- TEM and Spectroscopic Ellipsometry Studies of Multilayer Gate Dielectrics Containing Crystalline and Amorphous Si Nanoclusters

http://authors.elsevier.com/sd/article/S1386947712004560Physica E 51 111–114 (2013) D. Mateos, M. Curiel, N. Nedeva, D. Nesheva, R. Machorro, E. Manolov, N. Abundiz, A. Ariasa, O. Contreras, B. Valdeza, O. Raymond and J.M. Siqueiros


56.- Optical spectroscopy as a monitor for thin film growth by d.c. magnetron sputtering

http://dx.doi.org/10.1063/1.4798601 J. Appl. Phys. 113, 133504 (2013); doi: 10.1063/1.4798601,Noemi Abundiz*, Angeles Perez*, Marco Gomez*, and Roberto Machorro


 57.- Plasmon features of coinage metal nanoparticles supported on zeolites

DOI 10.1007/s11468-013-9571-5http://link.springer.com/article/10.1007%2Fs11468-013-9571-5Plasmonics, June (2013) Catalina López-Bastidas , Elena Smolentseva, Vitalii Petranovskii and Roberto Machorro


58.- Multiferroicity and magnetoelectric coupling in highly textured Pb(Fe0.5Nb0.5)O3 thin films obtained by rf-sputtering

Enviado a Acta Materialia, 27 abri 2013, Aprobado 28 nov 2013, Ms. No. A-13-962R1Raymond, Oscar; Góngora-Lugo, Paola*; Ostos, Carlos; Curiel, Mario; Bueno-Baques, Dario; Machorro, Roberto; Mestres, Lourdes; Font, Reynaldo; Portelles, Jorge; Siqueiros, Jesus,


Seis publicaciones más relevantes (El estudiante participante está con un asterisco)


40.- Wide-field spectroscopy for optical characterization of the pulsed laser deposition plume, E. Pérez-Tijerina*, Roberto Machorro, and J. Bohigas, Review of Scientific Instruments, 75, 455-461 (2004)


32.- Modification of refractive index in silicon oxynitrides films during deposition, R. Machorro, E.C. Samano, G.Soto, F. Villa and L. Cota-Araiza , Materials Letters, 45, 47-50 (2000)


26.- In situ ellipsometric characterization of SiN_{x} films grown by laser ablation, E.C. Samano, R. Machorro, G. Soto*, and L. Cota, J. Applied Physics, 84, 5296-5305 (1998)


20.- SiCxNy thin films alloys prepared by pulsed excimer laser deposition, Roberto Machorro, E.C. Samano, G. Soto and L. Cota, Applied Surface Science, 127-129, 564-568 (1998)


10.- Admittance Determination of the Optical Properties of Thin Films, Francisco Villa*, Roberto Machorro, J.Siqueiros and Luis E. Regalado, Applied Optics, 33, 2672-2677 (1994)


3.- Determination of the optical constants of MgF2 and ZnS from spectrophotometric measurements and the classical oscillator model, J. Siqueiros*, R. Machorro y L.E. Regalado, Applied Optics, 27,2549 (1988)