{"id":68,"date":"2023-01-12T01:45:28","date_gmt":"2023-01-12T01:45:28","guid":{"rendered":"https:\/\/www.cnyn.unam.mx\/?page_id=68"},"modified":"2024-10-24T20:49:12","modified_gmt":"2024-10-24T20:49:12","slug":"unidad-de-nanocaracterizacion-unac","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.cnyn.unam.mx\/?page_id=68","title":{"rendered":"Unidad de Nanocaracterizaci\u00f3n UNaC"},"content":{"rendered":"

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Unidad de Nanocaracterizaci\u00f3n (UNaC)<\/span><\/h1>\n

[\/vc_column_text][\/vc_column][\/vc_row][vc_row full_width=”stretch_row” css=”.vc_custom_1682640176635{background-color: #f3f3f3 !important;}” el_id=”infraestructura” el_class=”wrapper_info_departamento”][vc_column][vc_column_text]Para solicitar servicios, acceder a la Agenda UNAC:<\/span><\/p>\n

https:\/\/unac.cnyn.unam.mx\/<\/span><\/a><\/p>\n

La UNAC ofrece servicios de caracterizaci\u00f3n fisicoqu\u00edmica de materiales. El enfoque es obtener informaci\u00f3n estructural, morfol\u00f3gica, qu\u00edmica, textural, entre otras, de caracter\u00edsticas a nivel micro- y nanom\u00e9trico. Las t\u00e9cnicas de an\u00e1lisis permiten estudiar materiales s\u00f3lidos, y se obtiene informaci\u00f3n detallada de las propiedades de los materiales.<\/span><\/p>\n

Lo anterior es de alto valor, beneficiando al avance de ciencia y tecnolog\u00eda de materiales. Por tanto, los servicios son solicitados por las \u00e1reas experimentales del CNyN. Adem\u00e1s, ofrece servicio a la comunidad cient\u00edfica en la regi\u00f3n, como CIECESE y UABC, y otras regiones de M\u00e9xico. Los usuarios son acad\u00e9micos, alumnos de licenciatura, posgrados e iniciativa privada.\u00a0<\/span><\/p>\n

Cabe mencionar que la UNAC participa activamente en la labor docente mediante apoyo a cursos, pr\u00e1cticas de laboratorio y desarrollo de temas de tesis, adem\u00e1s de la formaci\u00f3n de recursos humanos entrenando usuarios para el manejo de los equipos.<\/span><\/p>\n

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Equipos disponibles:<\/b><\/p>\n

Microscopio de Fuerza At\u00f3mica modelo XE-70 de Park<\/span><\/p>\n

T\u00e9cnico: Dr. Eduardo Murillo<\/b><\/p>\n

La Microscop\u00eda de Fuerza At\u00f3mica (AFM) es una t\u00e9cnica poderosa que permite elaborar im\u00e1genes en 3D de la superficie de materiales s\u00f3lidos a escala micro y nanom\u00e9trica. Es una excelente herramienta para el an\u00e1lisis de superficies de materiales s\u00f3lidos, independientemente de su conductividad el\u00e9ctrica. Permite el estudio de caracter\u00edsticas de rugosidad, adherencia, dureza, conductividad, el\u00e9ctricas, magn\u00e9ticas o defectos. Tiene aplicaciones en la industria de pol\u00edmeros, \u00f3ptica, microelectr\u00f3nica y aeroespacial, entre otras.<\/span><\/p>\n

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Microscopio electr\u00f3nico de barrido con haz de iones enfocados (SEM\/FIB) modelo JIB 4500 de Jeol<\/span><\/p>\n

T\u00e9cnico: MC. Israel Gradilla<\/b><\/p>\n

El SEM tiene una resoluci\u00f3n de imagen de 2.5 nm (30kV), adem\u00e1s permite hacer an\u00e1lisis qu\u00edmico por espectroscop\u00eda de rayos-X de dispersi\u00f3n de energ\u00eda (EDX) y c\u00e1todo-luminiscencia.\u00a0<\/span><\/p>\n

Sirve para observar la estructura de la superficie de materiales s\u00f3lidos. Se utiliza para estudiar la topograf\u00eda, textura y composici\u00f3n qu\u00edmica de la superficie de una muestra. Permite estudiar defectos superficiales, como grietas, poros o inclusiones.<\/span><\/p>\n

El FIB tiene una resoluci\u00f3n de imagen de 5 nm, y permite desbastar (con iones de galio) y depositar materiales tales como carb\u00f3n, platino y tungsteno.\u00a0 Cuenta con un nano-manipulador que, en combinaci\u00f3n con el FIB, permite posicionar nanoestructuras en coordenadas espec\u00edficas.<\/span><\/p>\n

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Microscopio electr\u00f3nico de transmisi\u00f3n modelos JEM 2010 (TEM) y JEM2100F (STEM) de Jeol<\/span><\/p>\n

T\u00e9cnico:<\/b><\/p>\n

El microscopio electr\u00f3nico de transmisi\u00f3n emite un haz de electrones que puede atravesar una muestra fina (menor a 150 nm de espesor), interactuando a medida que pasa por ella. Permite obtener im\u00e1genes con resoluci\u00f3n at\u00f3mica. En los an\u00e1lisis t\u00edpicos se puede examinar la estructura cristalina, calidad de la interfaz, morfolog\u00eda de defectos o tama\u00f1o de nanopart\u00edculas. En STEM, un haz peque\u00f1o (\u201cnanoprobe\u201d) barre la muestra en un \u00e1rea rectangular (modo imagen o modo difracci\u00f3n). Lo anterior, provoca la emisi\u00f3n de rayos-X caracter\u00edsticos del tipo de \u00e1tomo presentes en el material. Un detector EDX (espectroscopia de dispersi\u00f3n de energ\u00eda de rayos-X) cuantifica la concentraci\u00f3n at\u00f3mica relativa.<\/span><\/p>\n

JEM 2010 TEM, emisi\u00f3n LaB<\/span>6<\/span><\/p>\n

Resoluci\u00f3n de punto 0.23 nm<\/span><\/p>\n

JEM 2100F (STEM), emisi\u00f3n de campo<\/span><\/p>\n

Resoluci\u00f3n de punto 0.19 nm<\/span><\/p>\n

https:\/\/www.jeol.com\/products\/scientific\/tem\/JEM-2100.php<\/span><\/a><\/p>\n

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Difract\u00f3metro de rayos-X para polvos modelo Philips X’pert MPD (XRD) de Panalytical<\/span><\/p>\n

T\u00e9cnico: MC. Elo\u00edsa Aparicio<\/b><\/p>\n

La t\u00e9cnica de difracci\u00f3n de rayos X permite determinar la estructura cristalina de un material. La difracci\u00f3n ocurre por interferencia constructiva de radiaci\u00f3n monocrom\u00e1tica dispersada el\u00e1sticamente por el material analizado. La t\u00e9cnica permite determinar las fases cristalinas, estimar el tama\u00f1o de los cristales y su orientaci\u00f3n, ayuda a identificar materiales. Se pueden analizar materiales catal\u00edticos, ferroel\u00e9ctricos, cer\u00e1micos, luminiscentes, productos farmac\u00e9uticos, entre otros. Tambi\u00e9n metales, aleaciones, composici\u00f3n de suelos, rocas y minerales.\u00a0<\/span><\/p>\n

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Responsable UNAC:<\/span><\/p>\n

Dr. Hugo Tiznado<\/span><\/p>\n

tiznado@ens.cnyn.unam.mx<\/span><\/a>[\/vc_column_text][\/vc_column][\/vc_row][vc_row full_width=”stretch_row” bg_type=”image” parallax_style=”vcpb-default” bg_image_new=”id^378|url^https:\/\/www.cnyn.unam.mx\/wp-content\/uploads\/2023\/01\/bg_servicios.jpg|caption^null|alt^null|title^bg_servicios|description^null” el_id=”servicios” el_class=”wrapper_info_departamento”][vc_column][vc_column_text]<\/p>\n

Servicios<\/span><\/strong><\/h3>\n
Servicios Nanocaracterizacion<\/span><\/strong><\/h5>\n

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