XPS de Alta Resolución (SPECS)

Actividades primordiales

• Caracterización de películas delgadas.
• Investigación en partículas metálicas y nuevos materiales

Equipo mayor con que se cuenta

• Equipo de análisis in-situ de espectroscopías Auger, X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) de alta resolución. Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS).

Equipo de cómputo

• Computadora para control de sistema de adquisición de datos.

Líneas de investigación

En la actualidad, en el laboratorio de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X de alta resolución (XPS-HR) se cuenta con un sistema de última generación de la marca SPECS que permite realizar análisis químico elemental por diferentes técnicas, realizar tratamientos químicos a alta presión y realizar síntesis de materiales in situ para su posterior análisis.

Para estas aplicaciones, el sistema cuenta con un cañón de electrones, dos fuentes de rayos X, una fuente de UV para análisis UPS, un analizador de resolucion angular, cañón de iones de argón, espectrómetro de masas de gases residuales, detector de electrones secundarios y un sistema de vacío que cuenta con 4 bombas mecánicas, 4 bombas turbo moleculares y una bomba iónica.

Además, cuenta con una cámara de tratamiento en alta presión y una cámara de transferencia movil que se puede acoplar a una camara de atmosfera inerte de presion diferencial positiva para analisis de muestras sensibles a gases ambientales y humedad.

El sistema SPECS está a cargo del Dr. Jorge Noé Díaz de León Hernández del departamento de Nanocatálisis quien se encarga de establecer las políticas de uso del sistema, así como tomar las decisiones pertinentes para el correcto funcionamiento del laboratorio en general.

Con el fin de que el sistema XPS SPECS trabaje en óptimas condiciones se ha establecido un costo por medición. Los fondos recaudados por dicho concepto tiene la finalidad de cubir los costos de la poliza de mantenimiento y la compra de consumibles.

 

Si requiere una medición en este equipo favor de enviar su solicitud al Dr. Díaz de León al correo: noejd@ens.cnyn.unam.mx

Para cualquier controversia podrá consultarse a la Comisión SPECS conformada por los doctores M. Farias, H. Tiznado, J.A. Díaz, D. Dominguez, S. Fuentes y J. N. Díaz de León.