Unidad de Nanocaracterización (UNaC)

Para solicitar servicios, acceder a la Agenda UNAC:

https://unac.cnyn.unam.mx/

La UNAC ofrece servicios de caracterización fisicoquímica de materiales. El enfoque es obtener información estructural, morfológica, química, textural, entre otras, de características a nivel micro- y nanométrico. Las técnicas de análisis permiten estudiar materiales sólidos, y se obtiene información detallada de las propiedades de los materiales.

Lo anterior es de alto valor, beneficiando al avance de ciencia y tecnología de materiales. Por tanto, los servicios son solicitados por las áreas experimentales del CNyN. Además, ofrece servicio a la comunidad científica en la región, como CIECESE y UABC, y otras regiones de México. Los usuarios son académicos, alumnos de licenciatura, posgrados e iniciativa privada. 

Cabe mencionar que la UNAC participa activamente en la labor docente mediante apoyo a cursos, prácticas de laboratorio y desarrollo de temas de tesis, además de la formación de recursos humanos entrenando usuarios para el manejo de los equipos.

 

Equipos disponibles:

Microscopio de Fuerza Atómica modelo XE-70 de Park

Técnico: Dr. Eduardo Murillo

La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) es una técnica poderosa que permite elaborar imágenes en 3D de la superficie de materiales sólidos a escala micro y nanométrica. Es una excelente herramienta para el análisis de superficies de materiales sólidos, independientemente de su conductividad eléctrica. Permite el estudio de características de rugosidad, adherencia, dureza, conductividad, eléctricas, magnéticas o defectos. Tiene aplicaciones en la industria de polímeros, óptica, microelectrónica y aeroespacial, entre otras.

 

Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocados (SEM/FIB) modelo JIB 4500 de Jeol

Técnico: MC. Israel Gradilla

El SEM tiene una resolución de imagen de 2.5 nm (30kV), además permite hacer análisis químico por espectroscopía de rayos-X de dispersión de energía (EDX) y cátodo-luminiscencia. 

Sirve para observar la estructura de la superficie de materiales sólidos. Se utiliza para estudiar la topografía, textura y composición química de la superficie de una muestra. Permite estudiar defectos superficiales, como grietas, poros o inclusiones.

El FIB tiene una resolución de imagen de 5 nm, y permite desbastar (con iones de galio) y depositar materiales tales como carbón, platino y tungsteno.  Cuenta con un nano-manipulador que, en combinación con el FIB, permite posicionar nanoestructuras en coordenadas específicas.

 

Microscopio electrónico de transmisión modelos JEM 2010 (TEM) y JEM2100F (STEM) de Jeol

Técnico:

El microscopio electrónico de transmisión emite un haz de electrones que puede atravesar una muestra fina (menor a 150 nm de espesor), interactuando a medida que pasa por ella. Permite obtener imágenes con resolución atómica. En los análisis típicos se puede examinar la estructura cristalina, calidad de la interfaz, morfología de defectos o tamaño de nanopartículas. En STEM, un haz pequeño (“nanoprobe”) barre la muestra en un área rectangular (modo imagen o modo difracción). Lo anterior, provoca la emisión de rayos-X característicos del tipo de átomo presentes en el material. Un detector EDX (espectroscopia de dispersión de energía de rayos-X) cuantifica la concentración atómica relativa.

JEM 2010 TEM, emisión LaB6

Resolución de punto 0.23 nm

JEM 2100F (STEM), emisión de campo

Resolución de punto 0.19 nm

https://www.jeol.com/products/scientific/tem/JEM-2100.php

 

Difractómetro de rayos-X para polvos modelo Philips X’pert MPD (XRD) de Panalytical

Técnico: MC. Eloísa Aparicio

La técnica de difracción de rayos X permite determinar la estructura cristalina de un material. La difracción ocurre por interferencia constructiva de radiación monocromática dispersada elásticamente por el material analizado. La técnica permite determinar las fases cristalinas, estimar el tamaño de los cristales y su orientación, ayuda a identificar materiales. Se pueden analizar materiales catalíticos, ferroeléctricos, cerámicos, luminiscentes, productos farmacéuticos, entre otros. También metales, aleaciones, composición de suelos, rocas y minerales. 

 

Responsable UNAC:

Dr. Hugo Tiznado

tiznado@ens.cnyn.unam.mx

Servicios

Servicios Nanocaracterizacion